Shtepia
Lajme
Përkthime
Projekt
Forum
Ndihmë
Anetaret
Identifikohu
Regjistrohu
. .
•Profili
kazandibi00
▪▪Të gjitha përkthimet
•Përkthime të kërkuara
•
Përkthime të preferuara
•Lista e projekteve
•Inbox
▪Shkembime falas
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
▪▪Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Të gjitha përkthimet
Kërko
Të gjitha përkthimet - kazandibi00
Kërko
gjuha e tekstit origjinal
Përkthe në
Rezultojne 1-2 për rreth 2
1
411
gjuha e tekstit origjinal
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Përkthime të mbaruara
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1